Fecha de publicación: 01/04/2018
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibraciones, frecuencias variables. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en abril de 2018.)
La norma UNE-EN IEC 60749-12:2018 establece los métodos de ensayo para evaluar la resistencia de dispositivos de semiconductores a vibraciones con frecuencias variables. Esta norma es parte del conjunto de normas que abarcan los métodos de ensayo mecánicos y climáticos para dispositivos de semiconductores, y se refiere específicamente a las pruebas de vibración.
La norma describe los procedimientos para realizar pruebas de vibración en condiciones controladas, con el fin de evaluar la capacidad del dispositivo para soportar vibraciones en diferentes frecuencias y amplitudes. Se establecen dos tipos de pruebas: una para dispositivos que se encuentran en un entorno rígido y otra para dispositivos que se encuentran en un entorno flexible.
La norma también define los parámetros de ensayo, como la frecuencia, la amplitud y el período de vibración, así como los métodos para medir los resultados de la prueba. Además, se establecen las condiciones de ensayo, incluyendo la temperatura, humedad y presión atmosférica.
La norma UNE-EN IEC 60749-12:2018 es una guía práctica para los ingenieros y técnicos que necesitan realizar pruebas de vibración en dispositivos de semiconductores. Su aplicación es fundamental para garantizar la calidad y fiabilidad de estos dispositivos en diferentes entornos y condiciones de uso.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar