Fecha de publicación: 01/03/2024
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo continuo de duración de vida bajo temperatura y humedad con polarización. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2024.)
La norma UNE-EN IEC 60749-5:2024 establece los requisitos para la evaluación del rendimiento y durabilidad de dispositivos de semiconductores sometidos a condiciones climáticas extremas y mecánicas. Esta parte específica se centra en el ensayo continuo de duración de vida bajo temperatura y humedad con polarización.
El objetivo principal de esta norma es evaluar la capacidad de los dispositivos para soportar condiciones ambientales adversas, como temperaturas elevadas y humedades relativas altas, sin afectar su rendimiento o durabilidad. El ensayo se realiza mediante un ciclo de temperatura-humedad que simula las condiciones climáticas extremas a las que pueden ser sometidos los dispositivos en un entorno real.
El procedimiento de ensayo implica la exposición del dispositivo a una secuencia predefinida de temperaturas y humedades, con polarización constante. La duración del ensayo se mide en función de la cantidad de ciclos de temperatura-humedad que el dispositivo puede soportar sin mostrar signos de deterioro o falla.
La norma establece los requisitos para la preparación y presentación de los dispositivos, así como las condiciones ambientales y los parámetros de ensayo. También se definen los métodos de medición y evaluación del rendimiento y durabilidad del dispositivo.
En resumen, esta norma proporciona una guía práctica para evaluar la resistencia a condiciones climáticas extremas y mecánicas de dispositivos de semiconductores, lo que es fundamental para garantizar su funcionamiento seguro y confiable en aplicaciones reales.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar