Fecha de publicación: 01/11/2021
Dispositivos semiconductores. Directrices de calificación de semiconductores genéricos. Parte 1: Guías para la calificación de fiabilidad de circuitos integrados. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en noviembre de 2021.)
La norma UNE-EN IEC 63287-1:2021, «Dispositivos semiconductores. Directrices de calificación de semiconductores genéricos. Parte 1: Guías para la calificación de fiabilidad de circuitos integrados», establece los requisitos y procedimientos para evaluar la fiabilidad de los circuitos integrados (IC) en general, sin considerar características específicas de un dispositivo determinado.
La norma se enfoca en la identificación de los factores que influyen en la fiabilidad de los IC y proporciona directrices para su calificación. Estas directrices incluyen la evaluación de parámetros como la tolerancia a la temperatura, la resistencia a la humedad, la capacidad de soporte de cargas eléctricas y la estabilidad de funcionamiento.
La norma también establece los requisitos para la documentación y el seguimiento de la calificación, incluyendo la presentación de informes de prueba y la verificación de la conformidad con los estándares de fiabilidad. Además, se proporcionan recomendaciones para la implementación de procedimientos de calificación en las plantas de fabricación y para la evaluación de la fiabilidad de los IC en diferentes aplicaciones.
La norma UNE-EN IEC 63287-1:2021 es una herramienta importante para los diseñadores, fabricantes y usuarios de IC, ya que proporciona un marco común para evaluar y mejorar la fiabilidad de estos dispositivos críticos en la mayoría de las aplicaciones electrónicas.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar