Fecha de publicación: 01/10/2020
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 41: Métodos de ensayo estándar de fiabilidad de dispositivos de memoria no volátiles (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2020.)
La norma UNE-EN IEC 60749-41:2020, «Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 41: Métodos de ensayo estándar de fiabilidad de dispositivos de memoria no volátiles», establece los procedimientos y condiciones para evaluar la resistencia y durabilidad de dispositivos de memoria no volátiles, como memoria flash o memoria ROM, en diferentes entornos y condiciones de prueba.
La norma se enfoca en la evaluación de la fiabilidad de estos dispositivos mediante ensayos mecánicos y climáticos estándar, que incluyen pruebas de resistencia a la tracción, compresión, torsión y vibraciones, así como pruebas de temperatura, humedad y radiación. Estos ensayos buscan simular las condiciones reales en las que se encontrarían los dispositivos en un sistema o aplicación, para evaluar su capacidad para funcionar correctamente y resistir a los efectos del tiempo y el uso.
La norma también establece los requisitos para la preparación de los dispositivos para el ensayo, incluyendo la selección y configuración de los dispositivos, así como las condiciones de prueba y medición. Además, se proporcionan recomendaciones para la interpretación de los resultados y la evaluación de la fiabilidad de los dispositivos.
En resumen, la norma UNE-EN IEC 60749-41:2020 es un documento fundamental para la industria de semiconductores y electrónica, ya que establece los estándares para evaluar la resistencia y durabilidad de dispositivos de memoria no volátiles en diferentes entornos y condiciones de prueba.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar