Fecha de publicación: 01/06/2019
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 17: Irradiación de neutrones. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2019.)
La norma UNE-EN IEC 60749-17:2019 se refiere a los métodos de ensayo mecánicos y climáticos para dispositivos de semiconductores, específicamente en lo que respecta a la irradiación de neutrones. Esta norma establece los procedimientos y requisitos para evaluar la resistencia de los dispositivos de semiconductores a la radiación de neutrones.
La norma se aplica a todos los dispositivos de semiconductores, incluyendo diodos, transistores, integrados circuitos y otros componentes electrónicos. Los ensayos deben ser realizados en laboratorios especializados y bajo condiciones controladas para garantizar la precisión y reproducibilidad de los resultados.
La irradiación de neutrones se realiza mediante la exposición del dispositivo a una fuente de neutrones, como un reactor nuclear o un acelerador de partículas. El nivel de radiación debe ser medido y registrado durante el ensayo para garantizar que se cumplan los límites establecidos en la norma.
La norma también establece los requisitos para la presentación y análisis de los resultados, incluyendo la determinación del umbral de daño (TID) y la evaluación de la afectación en el rendimiento y la vida útil del dispositivo. Los ensayos deben ser realizados por personal capacitado y bajo supervisión especializada para garantizar la seguridad y eficacia de los resultados.
En resumen, la norma UNE-EN IEC 60749-17:2019 proporciona una guía práctica y detallada para la evaluación de la resistencia de dispositivos de semiconductores a la irradiación de neutrones, lo que es fundamental para garantizar la seguridad y confiabilidad de los sistemas electrónicos en aplicaciones críticas.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar