Fecha de publicación: 01/07/2017
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)
La norma UNE-EN 60749-6:2017, «Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura», establece los requisitos para la evaluación del almacenamiento a alta temperatura de dispositivos de semiconductores. Esta norma es aplicable a todos los tipos de dispositivos de semiconductores, incluyendo diodos, transistores, condensadores y otros componentes electrónicos.
La norma describe los métodos para evaluar la resistencia de los dispositivos de semiconductores al almacenamiento en condiciones de alta temperatura. Estos métodos incluyen la exposición a temperaturas entre 125°C y 300°C durante períodos de tiempo variables, dependiendo del tipo de dispositivo y su aplicación.
La norma también establece los requisitos para la preparación de los dispositivos antes del ensayo, como la limpieza y la selección de muestras representativas. Además, se definen los parámetros de medición y los métodos de análisis para evaluar el estado de los dispositivos después del ensayo.
La aplicación de esta norma es fundamental para garantizar la confiabilidad y durabilidad de los dispositivos de semiconductores en aplicaciones que requieren almacenamiento a alta temperatura, como sistemas electrónicos para vehículos, equipo médico o sistemas de comunicación. La ratificación de esta norma por la Asociación Española de Normalización (AENOR) en julio de 2017 garantiza su compatibilidad con las regulaciones y normas internacionales.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar