Fecha de publicación: 01/07/2017
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 3: Examen visual externo. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)
La norma UNE-EN 60749-3:2017, «Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 3: Examen visual externo», establece los requisitos para el examen visual externo de dispositivos de semiconductores, con el fin de evaluar su conformidad con los estándares de calidad y seguridad.
La norma se aplica a todos los tipos de dispositivos de semiconductores, incluyendo diodos, transistores, resistencias, condensadores, etc. El examen visual externo se realiza para detectar defectos visibles en la superficie del dispositivo, como imperfecciones en la soldadura, daños en la envoltura o presencia de materiales extraños.
La norma establece los procedimientos y condiciones para el examen visual externo, incluyendo la iluminación, la distancia de observación y la resolución óptica. También se definen las categorías de defectos visibles que pueden ser detectados, como por ejemplo, grietas, agujeros, manchas o alteraciones en la superficie del dispositivo.
Además, la norma establece los requisitos para el equipo de examen visual externo, como lupa, microscopio óptico y otros instrumentos de medición. Los resultados del examen visual externo deben ser registrados y archivados según lo establecido en la norma.
En resumen, la norma UNE-EN 60749-3:2017 proporciona una guía para el examen visual externo de dispositivos de semiconductores, con el fin de garantizar su calidad y seguridad.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar