Fecha de publicación: 01/12/2016
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 44: Método de ensayo por efecto de evento único (SEE) mediante haz de neutrones irradiados para dispositivos semiconductores. (Ratificada por AENOR en diciembre de 2016.)
La norma UNE-EN 60749-44:2016, «Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 44: Método de ensayo por efecto de evento único (SEE) mediante haz de neutrones irradiados para dispositivos semiconductores», establece un método de ensayo para evaluar la resistencia de los dispositivos semiconductores a la radiación ionizante, específicamente a los neutrones.
Este método consiste en someter los dispositivos a una exposición única a un haz de neutrones irradiados, lo que permite evaluar el efecto de este tipo de radiación en la función y fiabilidad del dispositivo. El objetivo es determinar si el dispositivo puede soportar la radiación sin sufrir daños significativos.
La norma especifica los requisitos para la preparación de los dispositivos antes del ensayo, incluyendo la selección de los materiales y la configuración de los circuitos integrados. También se establecen las condiciones de irradiación, como la intensidad y duración del haz de neutrones, así como los parámetros de medición para evaluar el rendimiento del dispositivo después del ensayo.
La norma también incluye recomendaciones para la interpretación de los resultados y la toma de decisiones sobre la aceptabilidad o rechazo de los dispositivos. La aplicación de este método es especialmente relevante en industrias que requieren la utilización de dispositivos semiconductores en entornos radiactivos, como la aeroespacial, la nuclear o la defensa.
En resumen, la norma UNE-EN 60749-44:2016 proporciona un método estandarizado para evaluar la resistencia de los dispositivos semiconductores a la radiación ionizante mediante haz de neutrones irradiados, lo que es fundamental para garantizar la fiabilidad y seguridad de estos componentes en aplicaciones críticas.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar