Fecha de publicación: 01/04/2016
Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética. Parte 1: Definiciones y condiciones generales (Ratificada por AENOR en abril de 2016.)
La norma UNE-EN 62132-1:2016, «Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética. Parte 1: Definiciones y condiciones generales», establece los requisitos para la medición de la inmunidad electromagnética (EMI) en circuitos integrados (ICs). Esta norma es una guía práctica para garantizar la compatibilidad electromagnética (CEM) entre ICs y otros componentes electrónicos.
La norma define los términos y conceptos relacionados con la medición de EMI, como la inmunidad electromagnética, el rango de frecuencia, la potencia de señal y la sensibilidad. También establece las condiciones generales para la realización de pruebas de EMI, incluyendo los parámetros de prueba, la configuración del equipo de medición y la presentación de los resultados.
La norma también especifica los procedimientos para la calibración y verificación de los equipos de medición, así como las limitaciones y restricciones para la aplicación de esta norma. Además, se proporcionan recomendaciones para la planificación y ejecución de pruebas de EMI en ICs.
La ratificación de AENOR en abril de 2016 garantiza que la norma sea compatible con los requisitos europeos y nacionales para la evaluación de la compatibilidad electromagnética. En resumen, esta norma es una herramienta valiosa para diseñadores y fabricantes de ICs y otros componentes electrónicos que buscan garantizar la CEM en sus productos.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar