Fecha de publicación: 21/12/2011
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida de funcionamiento a alta temperatura.
La norma UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011 establece los métodos de ensayo para evaluar la vida de funcionamiento a alta temperatura de dispositivos semiconductores. Esta norma forma parte del conjunto de estándares internacionales sobre ensayos mecánicos y climáticos para dispositivos semiconductores, publicados por la Comisión Electrotécnica Internacional (IEC).
La presente norma se refiere a los métodos de ensayo para determinar la capacidad de los dispositivos semiconductores para operar en condiciones de alta temperatura. Estos métodos incluyen la exposición a temperaturas elevadas, tanto estáticas como cíclicas, y la evaluación de la respuesta del dispositivo a estas condiciones.
La norma establece requisitos para la preparación y manipulación de los dispositivos semiconductores antes del ensayo, así como para el equipo y los procedimientos utilizados en el ensayo. También se definen los parámetros de ensayo, incluyendo la temperatura de ensayo, el tiempo de exposición y las condiciones de humedad.
La norma es aplicable a una amplia variedad de dispositivos semiconductores, incluyendo diodos, transistores, integrados circuitos y otros componentes electrónicos. Los resultados del ensayo deben ser registrados y analizados para evaluar la capacidad del dispositivo para operar en condiciones de alta temperatura.
En resumen, la norma UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011 proporciona una guía práctica para realizar ensayos de vida de funcionamiento a alta temperatura en dispositivos semiconductores y evaluar su capacidad para operar en condiciones extremas.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar