Fecha de publicación: 01/11/2011
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 40: Método de ensayo de caída al nivel de la plataforma mediante la utilización de galgas extensométricas (Ratificada por AENOR en noviembre de 2011.)
La norma UNE-EN 60749-40:2011 establece un método de ensayo para evaluar la resistencia a caídas de dispositivos de semiconductores, mediante el uso de galgas extensométricas. Este método se aplica a dispositivos que se encuentran en una plataforma y deben ser sometidos a una prueba de caída para evaluar su capacidad de soportar las fuerzas y tensiones generadas por este tipo de evento.
El ensayo consiste en colocar el dispositivo en una plataforma y luego hacer que caiga libremente hacia abajo, utilizando un mecanismo de lanzamiento controlado. Las galgas extensométricas se utilizan para medir la deformación del dispositivo durante la caída, lo que permite evaluar su resistencia a las fuerzas mecánicas.
El ensayo se realiza en condiciones ambientales específicas, como temperatura y humedad, que deben ser controladas y registradas. Se establecen límites de aceptación para los parámetros de deformación medidos, lo que garantiza la seguridad y confiabilidad del dispositivo.
La norma UNE-EN 60749-40:2011 es una guía práctica y rigurosa para evaluar la resistencia a caídas de dispositivos de semiconductores, lo que ayuda a los fabricantes y usuarios a garantizar el rendimiento y seguridad de sus productos.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar