Fecha de publicación: 01/11/2011
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 29: Ensayo de enclavamiento. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2011.)
La norma UNE-EN 60749-29:2011, «Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 29: Ensayo de enclavamiento», establece los requisitos para el ensayo de enclavamiento de dispositivos de semiconductores. Esta norma es una parte integral del estándar internacional IEC 60749, que abarca métodos de ensayo mecánicos y climáticos para dispositivos de semiconductores.
La norma define los procedimientos y las condiciones para realizar el ensayo de enclavamiento, que consiste en evaluar la resistencia del dispositivo a la aplicación de fuerzas mecánicas y climáticas. El objetivo es verificar si el dispositivo puede soportar las condiciones de servicio previstas sin sufrir daños o alteraciones que afecten su funcionamiento.
El ensayo de enclavamiento se realiza mediante la aplicación de cargas mecánicas y climáticas específicas, como fuerzas de compresión, tracción y torsión, así como exposición a temperaturas extremas, humedad y vibración. Los resultados del ensayo se evalúan según los parámetros establecidos en la norma, tales como la resistencia al desgaste, la tensión interna y la estabilidad dimensional.
La aplicación de esta norma es importante para garantizar la calidad y confiabilidad de los dispositivos de semiconductores, ya que su correcto funcionamiento depende de su capacidad para soportar las condiciones de servicio previstas. Los fabricantes y usuarios de dispositivos de semiconductores deben cumplir con los requisitos establecidos en esta norma para garantizar la seguridad y eficacia de sus productos.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar