Fecha de publicación: 19/01/2011
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 32: Inflamabilidad de dispositivos con encapsulado plástico (provocada externamente).
La norma UNE-EN 60749-32:2004/A1:2011 se refiere a los métodos de ensayo mecánicos y climáticos para dispositivos de semiconductores, específicamente en lo que respecta a la inflamabilidad de dispositivos con encapsulado plástico provocada externamente.
Esta norma establece los requisitos para evaluar la resistencia de los dispositivos electrónicos a la inflamación, tanto en condiciones estándar como bajo cargas mecánicas y climáticas. El objetivo es determinar si el dispositivo puede mantener su función y seguridad en caso de exposición a fuentes de ignición externas.
La norma se aplica a dispositivos de semiconductores con encapsulado plástico, incluyendo diodos, transistores, condensadores y otros componentes electrónicos. Los ensayos se realizan bajo diferentes condiciones de temperatura, humedad y cargas mecánicas para simular situaciones reales de uso.
Los métodos de ensayo establecidos en esta norma incluyen la aplicación de cargas mecánicas estándar, como tirantes y golpes, así como exposición a temperaturas extremas y humedades altas. También se evalúa la resistencia del dispositivo a la ignición externa mediante la aplicación de fuentes de calor y llama.
La norma UNE-EN 60749-32:2004/A1:2011 es importante para garantizar la seguridad y fiabilidad de los dispositivos electrónicos en aplicaciones que requieren una alta resistencia a la inflamación, como sistemas críticos o en entornos peligrosos.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar