Fecha de publicación: 01/10/2010
Dispositivos semiconductores. Ensayo de esfuerzos para metalización en vacio (Ratificada por AENOR en octubre de 2010.)
La norma UNE-EN 62418:2010, «Dispositivos semiconductores. Ensayo de esfuerzos para metalización en vacío», establece los requisitos y procedimientos para la evaluación de la resistencia a la tracción y a la compresión de dispositivos semiconductores con metalización en vacío. Esta norma se aplica a dispositivos semiconductores, incluyendo diodos, transistores y otros componentes electrónicos que requieren una conexión eléctrica.
La norma describe los métodos para realizar ensayos de esfuerzos estáticos y dinámicos en condiciones de vacío, con el fin de evaluar la resistencia a la tracción y a la compresion del material semiconductor. Los ensayos se realizan utilizando un dispositivo de ensayo especializado que permite aplicar tensiones y fuerzas controladas sobre el dispositivo semiconductor.
La norma establece los siguientes requisitos: la preparación del dispositivo para el ensayo, la aplicación de las tensiones y fuerzas, la medición de la deformación y la resistencia, y la evaluación de los resultados. También se establecen procedimientos para la corrección de errores y la interpretación de los resultados.
La norma UNE-EN 62418:2010 es una herramienta importante para garantizar la calidad y fiabilidad de dispositivos semiconductores con metalización en vacío, ya que permite evaluar su resistencia a las fuerzas externas y garantizar su comportamiento en condiciones de servicio.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar