Fecha de publicación: 01/06/2009
Dispositivos optoelectrónicos de semiconductores para aplicaciones en sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición. (Ratificada por AENOR en junio de 2009.)
La norma UNE-EN 62007-2:2009 establece los métodos de medición para dispositivos optoelectrónicos de semiconductores utilizados en sistemas de fibra óptica. Esta norma es parte de una serie de estándares que abordan la caracterización y evaluación de componentes optoelectrónicos, y se enfoca específicamente en los métodos para medir las propiedades eléctricas y ópticas de estos dispositivos.
La norma describe los procedimientos para medir parámetros como el voltaje de corte, la corriente de saturación, la eficiencia de conversión, la respuesta en frecuencia y la distorsión. También se establecen las condiciones para realizar estas mediciones, incluyendo la configuración del equipo de medida, la selección de los componentes y la calibración de los instrumentos.
Además, la norma proporciona recomendaciones para la presentación de los resultados de medición y la interpretación de los datos. Esto permite a los fabricantes y usuarios de dispositivos optoelectrónicos evaluar y comparar las características de diferentes componentes y sistemas.
La aplicación de esta norma es fundamental para garantizar la calidad y confiabilidad de los dispositivos optoelectrónicos utilizados en sistemas de fibra óptica, lo que es crucial para la transmisión de datos a alta velocidad y la comunicación segura. La ratificación de esta norma por AENOR (Asociación Española de Normalización) garantiza su compatibilidad con los estándares internacionales y su uso en la industria española.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar