Fecha de publicación: 01/11/2006
Ensayo de estabilidad a temperatura Bias para óxido metálico, semiconductores, transistores de efecto de campo (IEC 62373:2006) (Ratificada por AENOR en noviembre de 2006).
La norma UNE-EN 62373:2006, «Ensayo de estabilidad a temperatura Bias para óxido metálico, semiconductores y transistores de efecto de campo», establece los requisitos para la evaluación de la estabilidad térmica de componentes electrónicos que utilizan óxidos metálicos, semiconductores y transistores de efecto de campo. Esta norma es una adaptación de la norma internacional IEC 62373:2006.
La norma se aplica a los componentes electrónicos que requieren una estabilidad térmica para su funcionamiento correcto, como por ejemplo, resistencias, condensadores, diodos, transistores y otros dispositivos que utilizan óxidos metálicos o semiconductores. Los ensayos de estabilidad a temperatura Bias se realizan para evaluar la capacidad del componente para mantener sus características eléctricas y mecánicas en condiciones de temperatura ambiente y bajo carga.
La norma establece los procedimientos y métodos para realizar los ensayos, incluyendo la preparación del equipo y los materiales, la configuración del circuito de prueba, la medición de las características eléctricas y la evaluación de los resultados. También se definen los límites de aceptación para la estabilidad térmica y se establecen los requisitos para la presentación de los resultados.
La aplicación de esta norma es importante para garantizar la calidad y confiabilidad de los componentes electrónicos, especialmente en aplicaciones críticas que requieren una estabilidad térmica alta. Los fabricantes y proveedores de componentes electrónicos deben cumplir con los requisitos establecidos en esta norma para asegurar la compatibilidad y interoperabilidad entre diferentes componentes y sistemas.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar