Fecha de publicación: 16/03/2005
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida de funcionamiento a alta temperatura.
La norma UNE-EN 60749-23:2005 establece los métodos de ensayo para evaluar la vida de funcionamiento a alta temperatura de dispositivos semiconductores. Esta norma forma parte del conjunto de estándares de ensayo mecánicos y climáticos para dispositivos semiconductores, publicado por la Unión Europea.
La norma se centra en la evaluación de la resistencia de los dispositivos semiconductores a temperaturas elevadas, que pueden ser causadas por la operación en entornos calurosos o por la exposición a fuentes de calor. Los ensayos descritos en esta norma tienen como objetivo determinar la capacidad del dispositivo para funcionar correctamente y sin dañarse durante un período de tiempo prolongado a temperaturas elevadas.
Los métodos de ensayo establecidos en esta norma incluyen la exposición del dispositivo a temperaturas entre 125°C y 300°C, utilizando técnicas de circulación de aire forzada o de inmersión en aceite. Se pueden realizar pruebas de durabilidad y de resistencia a la temperatura para evaluar la capacidad del dispositivo para soportar condiciones extremas.
La norma también establece los requisitos para la presentación de los resultados, incluyendo la presentación de gráficos y tablas que muestren la vida de funcionamiento a alta temperatura del dispositivo. La interpretación de los resultados se basa en la evaluación de la capacidad del dispositivo para cumplir con los requisitos de diseño y de funcionamiento establecidos.
En resumen, la norma UNE-EN 60749-23:2005 proporciona un marco para evaluar la vida de funcionamiento a alta temperatura de dispositivos semiconductores, lo que es fundamental para garantizar su seguridad y rendimiento en entornos calurosos.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar