Fecha de publicación: 28/05/2004
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 8: Estanquidad.
La norma UNE-EN 60749-8:2004, «Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 8: Estanquidad», establece los requisitos para la evaluación de la estanquidad de dispositivos de semiconductores expuestos a condiciones ambientales adversas, como humedad, temperatura y vibraciones.
La norma se aplica a dispositivos de semiconductores que requieren una estanquidad adecuada para su funcionamiento seguro y confiable. Los ensayos descritos en esta norma están diseñados para evaluar la capacidad del dispositivo para resistir el ingreso de agua, aire o otros gases, y evitar la contaminación o daño causado por la humedad.
Los métodos de ensayo establecidos en esta norma incluyen pruebas de inmersión, prueba de presión de vapor de agua, prueba de condensación y prueba de vibraciones. Estos ensayos se realizan con el fin de determinar la resistencia del dispositivo a la humedad, la temperatura y las vibraciones.
La norma también establece los requisitos para la preparación y presentación de los dispositivos antes de realizar los ensayos, así como los procedimientos para la evaluación y registro de los resultados. La estanquidad es un aspecto crítico en el diseño y fabricación de dispositivos de semiconductores, y esta norma proporciona una guía práctica para garantizar que estos dispositivos cumplan con los requisitos de estanquidad necesarios.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar