Fecha de publicación: 28/05/2004
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 1: Generalidades.
La norma UNE-EN 60749-1:2004, «Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 1: Generalidades», establece los requisitos generales para la evaluación de la resistencia a los efectos del entorno y las condiciones de servicio de dispositivos de semiconductores, incluyendo diodos, transistores, condensadores y otros componentes electrónicos.
La norma se aplica a dispositivos de semiconductores que se utilizan en aplicaciones eléctricas y electrónicas, incluyendo sistemas de automoción, comunicación, medicina y otros campos. El objetivo es garantizar la confiabilidad y seguridad de los dispositivos durante su uso normal y bajo condiciones extremas.
La norma describe los métodos de ensayo para evaluar la resistencia a la vibración, la humedad, el frío y el calor, así como las pruebas de impacto y torsión. También se establecen procedimientos para medir la temperatura de trabajo y la vida útil de los dispositivos.
La norma es aplicable a todos los dispositivos de semiconductores que se comercializan en Europa y otros países que han adoptado esta norma como requisito regulador. Los fabricantes, proveedores y usuarios deben cumplir con los requisitos establecidos en la norma para garantizar la calidad y seguridad de los dispositivos.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar