Fecha de publicación: 21/11/2003
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 16: Detección del ruido de impacto de partículas (PIND).
La norma UNE-EN 60749-16:2003, «Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 16: Detección del ruido de impacto de partículas (PIND)», establece los requisitos para la detección del ruido de impacto de partículas en dispositivos de semiconductores.
La norma describe un método de ensayo que evalúa la resistencia de los dispositivos a la presencia de partículas y objetos pequeños que pueden afectar su funcionamiento. El objetivo es determinar si el dispositivo puede soportar el impacto de estas partículas sin sufrir daño o alteración en su comportamiento.
El método de ensayo PIND consiste en generar un ruido de impacto mediante la caída de partículas sobre el dispositivo, y luego evaluar el ruido generado por el impacto a través de un microfono. La norma especifica los parámetros para la preparación del dispositivo, las condiciones de ensayo y los métodos de medición.
La norma también establece los límites de aceptación para la detección del ruido de impacto, que dependen del tipo de dispositivo y su aplicación específica. Los fabricantes de dispositivos de semiconductores deben cumplir con estos requisitos para garantizar la calidad y fiabilidad de sus productos.
En resumen, la norma UNE-EN 60749-16:2003 proporciona un método estándar para evaluar la resistencia a partículas en dispositivos de semiconductores, lo que es fundamental para asegurar su funcionamiento correcto en aplicaciones críticas.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar