Fecha de publicación: 30/05/2003
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 2: Baja presión atmosférica.
La norma UNE-EN 60749-2:2003, «Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 2: Baja presión atmosférica», establece los procedimientos para la evaluación de dispositivos de semiconductores bajo condiciones de baja presión atmosférica. Esta norma es parte de una serie de estándares que definen métodos de ensayo para evaluar el rendimiento y la fiabilidad de dispositivos de semiconductores.
La presente norma se aplica a dispositivos de semiconductores, incluyendo diodos, transistores, resistencias y condensadores, utilizados en aplicaciones electrónicas. El objetivo es evaluar la capacidad de los dispositivos para operar correctamente bajo condiciones de baja presión atmosférica, lo que es especialmente importante en aplicaciones donde se requiere una alta fiabilidad y durabilidad.
La norma establece procedimientos para realizar pruebas de resistencia mecánica, prueba de choque, prueba de vibración y prueba de humedad en condiciones de baja presión atmosférica. También se definen los métodos para medir la variación del parámetro de caracterización (DC) bajo estas condiciones.
La norma UNE-EN 60749-2:2003 es un documento importante para garantizar la calidad y fiabilidad de dispositivos de semiconductores en aplicaciones que requieren operar bajo condiciones de baja presión atmosférica. Los fabricantes y usuarios de dispositivos de semiconductores deben cumplir con los requisitos establecidos por esta norma para asegurar el rendimiento y la durabilidad de sus productos.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar