Fecha de publicación: 30/04/2024
Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) Test method for GaN crystal surface defects Part 2: Method for determining etch pit density
La norma ISO 5618-2:2024 describe un método para determinar la densidad de defectos en la superficie de cristales de GaN (Gallium Nitrido) utilizados en cerámicas avanzadas y técnicas. Esta norma forma parte del conjunto de especificaciones para la evaluación de la calidad de los materiales cerámicos avanzados.
El método descrito en esta norma se basa en la técnica de etch, que implica la aplicación de un agente químico para revelar las defectos superficiales en el cristal. La densidad de defectos se determina mediante la medición del número de pozos etchant (pozos de etchant) presentes en una área específica de la superficie del cristal.
La norma proporciona detalles sobre los materiales y equipos necesarios para realizar la prueba, incluyendo el agente químico utilizado para la etch, el tiempo de exposición y las condiciones de temperatura y humedad. También se establecen procedimientos para la preparación y tratamiento del cristal antes de la prueba.
La norma ISO 5618-2:2024 es importante para garantizar la calidad y fiabilidad de los materiales cerámicos avanzados utilizados en aplicaciones críticas, como componentes electrónicos y dispositivos ópticos. La determinación de la densidad de defectos superficiales es fundamental para evaluar la calidad del material y predecir su comportamiento en servicio.
**Nota:** Este texto es una técnica de la norma ISO 5618-2:2024 y no contiene información confidencial o clasificada.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar