Fecha de publicación: 19/03/2024
Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 43: Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices
Fecha de publicación: 19/03/2024
Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 43: Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar