Fecha de publicación: 27/07/2022
Semiconductor devices – Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices – Part 4: Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar