Fecha de publicación: 22/07/2020
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
[PDF] IEC 60749-41:2020 gratis
Fecha de publicación: 22/07/2020
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar