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[PDF] IEC 63068-2:2019 gratis


Fecha de publicación: 30/01/2019

Semiconductor devices – Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices – Part 2: Test method for defects using optical inspection

IEC 63068-2:2019

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2 comentarios para ▷ [PDF] IEC 63068-2:2019 gratis

  1. gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...

  2. gracias, es dificil de encontrar sin pagar

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