Fecha de publicación: 25/09/2012
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing – Machine model (MM)
Fecha de publicación: 25/09/2012
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing – Machine model (MM)
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar