Fecha de publicación: 07/04/2011
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 29: Latch-up test
[PDF] IEC 60749-29:2011 gratis
Fecha de publicación: 07/04/2011
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 29: Latch-up test
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar