Fecha de publicación: 01/07/2002
Sistemas de evaluación de la calidad. Parte 1: Registro y análisis de defectos en conjuntos de tarjetas con circuito impreso. (Ratificada por AENOR en julio de 2002)
La norma UNE-EN 61193-1:2002, «Sistemas de evaluación de la calidad. Parte 1: Registro y análisis de defectos en conjuntos de tarjetas con circuito impreso», establece los requisitos para el registro y análisis de defectos en conjuntos de tarjetas con circuito impreso (PCBs). Esta norma se aplica a la industria electrónica y a cualquier organización que desee implementar un sistema de evaluación de la calidad basado en la detección y análisis de defectos.
La norma define los procedimientos para el registro de defectos, incluyendo la clasificación, codificación y documentación de los defectos. También establece los requisitos para el análisis de defectos, como la identificación de patrones y tendencias en la ocurrencia de defectos, lo que permite a las organizaciones tomar decisiones informadas sobre la mejora continua de su proceso de producción.
La norma también cubre aspectos importantes como la planificación del registro y análisis de defectos, la selección de métodos y herramientas para el registro y análisis, y la presentación de los resultados. Además, establece requisitos para la documentación y archivo de los datos registrados y analizados.
La implementación de esta norma puede ayudar a las organizaciones a mejorar su capacidad para detectar y corregir defectos en sus productos, lo que puede llevar a una reducción del costo de producción y un aumento en la satisfacción del cliente.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar