Fecha de publicación: 01/11/2013
Circuitos integrados. Medida de la inmunidad del impulso. Parte 3: Método de inyección transitoria no sincronizada. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2013.)
La norma UNE-EN 62215-3:2013 se refiere a la medición de la inmunidad del impulso en circuitos integrados. Esta parte 3 de la norma describe un método de inyección transitoria no sincronizada para evaluar la resistencia de los dispositivos electrónicos a las perturbaciones eléctricas.
El método descrito en esta norma se basa en la aplicación de una señal de pulso transitorio no sincronizada en el circuito integrado, lo que genera un impulso en la salida del dispositivo. La amplitud y duración del impulso pueden variar según los parámetros de diseño y fabricación del circuito.
La norma establece los requisitos para la medición de la inmunidad del impulso, incluyendo la frecuencia de muestreo, el número de repeticiones y el análisis de los resultados. También se definen los límites de aceptación para la tolerancia a las perturbaciones eléctricas.
La aplicación de esta norma es importante en la evaluación de la fiabilidad y robustez de los circuitos integrados, especialmente en aplicaciones críticas que requieren una alta resistencia a las perturbaciones eléctricas. La medición de la inmunidad del impulso puede ayudar a identificar defectos o debilidades en el diseño o fabricación del circuito, lo que permite tomar medidas correctivas para mejorar su rendimiento y fiabilidad.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar