Fecha de publicación: 01/12/2011
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales. (Ratificada por AENOR en diciembre de 2011.)
La norma UNE-EN 60749-7:2011, «Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales», establece los procedimientos para la medición del contenido de humedad interna y el análisis de otros gases residuales en dispositivos de semiconductores.
La norma se aplica a todos los tipos de dispositivos de semiconductores, incluyendo diodos, transistores, condensadores y otros componentes electrónicos. Los métodos descritos en esta norma son utilizados para evaluar la calidad y el rendimiento de los dispositivos, ya que la presencia de humedad interna y gases residuales puede afectar su funcionamiento y durabilidad.
La medición del contenido de humedad interna se realiza mediante técnicas de análisis químico, como la espectrometría de masas o la cromatografía gasosa. El procedimiento involucra la extracción de muestras del dispositivo, seguida de una serie de pasos para purificar y analizar el contenido gaseoso.
La norma también establece los límites permitidos para la concentración de gases residuales, como oxígeno, nitrógeno, hidrógeno y otros. Los dispositivos que no cumplan con estos límites pueden ser rechazados o requerir ajustes adicionales antes de su uso.
En resumen, la norma UNE-EN 60749-7:2011 proporciona una guía para la medición del contenido de humedad interna y el análisis de otros gases residuales en dispositivos de semiconductores, lo que es fundamental para garantizar su calidad y rendimiento.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar