Fecha de publicación: 13/07/2011
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 40: Board level drop test method using a strain gauge
[PDF] IEC 60749-40:2011 gratis
Fecha de publicación: 13/07/2011
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 40: Board level drop test method using a strain gauge
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar