Fecha de publicación: 13/12/2024
BS EN IEC 63287-4 Semiconductor devices – Guidelines for reliability qualification plans. Part 4: Early failure assessment
Fecha de publicación: 13/12/2024
BS EN IEC 63287-4 Semiconductor devices – Guidelines for reliability qualification plans. Part 4: Early failure assessment
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar