Fecha de publicación: 07/08/2003
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)
Fecha de publicación: 07/08/2003
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar