Fecha de publicación: 27/01/2011
Amendment 1 – Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 23: High temperature operating life
[PDF] IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 gratis
Fecha de publicación: 27/01/2011
Amendment 1 – Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 23: High temperature operating life
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar