Fecha de publicación: 13/02/2003
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 36: Acceleration, steady state
[PDF] IEC 60749-36:2003 gratis
Fecha de publicación: 13/02/2003
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 36: Acceleration, steady state
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar