Fecha de publicación: 19/06/2014
Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 21: Test method for Poisson’s ratio of thin film MEMS materials
Fecha de publicación: 19/06/2014
Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 21: Test method for Poisson’s ratio of thin film MEMS materials
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar