[PDF] IEC TR 63133:2017 gratis Fecha de publicación: 11/10/2017 Semiconductor devices – Scan based ageing level estimation for semiconductor devices IEC TR 63133:2017
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
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gracias, es dificil de encontrar sin pagar