Fecha de publicación: 18/07/2016
Microbeam analysis Scanning electron microscopy Guidelines for calibrating image magnification
La norma ISO 16700:2016, «Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Guidelines for calibrating image magnification», establece directrices para la calibración de la magnificación en microscopios electrónicos de barrido (SEM). Esta norma se enfoca en proporcionar una guía práctica para garantizar la precisión y consistencia en la medición de la magnitud de las imágenes obtenidas mediante SEM.
La norma destaca la importancia de calibrar la magnificación en SEM, ya que esta es crítica para la interpretación precisa de los resultados de análisis microscópicos. Para lograr esto, se establecen procedimientos detallados para la calibración de la magnificación, incluyendo la selección del material de referencia, la configuración del equipo y el ajuste de los parámetros de imagen.
La norma también aborda la importancia de considerar factores como la resolución espacial, la sensibilidad y la precisión en la medición de la magnitud. Además, se proporcionan recomendaciones para la evaluación y verificación de la calibración de la magnificación, incluyendo la utilización de métodos estadísticos y la comparación con valores de referencia.
En resumen, la norma ISO 16700:2016 es un documento fundamental para cualquier laboratorio que realice análisis microscópicos mediante SEM. Proporciona una guía detallada y práctica para garantizar la precisión y consistencia en la calibración de la magnificación, lo que a su vez contribuye a mejorar la calidad de los resultados de análisis.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar