Fecha de publicación: 10/06/2024
Chemical analysis of raw materials and refractory products containing silicon-carbide, silicon-nitride, silicon-oxynitride and sialon Part 4: XRD methods
La norma ISO 21068-4:2024 «Chemical analysis of raw materials and refractory products containing silicon-carbide, silicon-nitride, silicon-oxynitride and sialon Part 4: XRD methods» establece los métodos de análisis química para la determinación del contenido de silicio-carburo (SiC), silicio-nitruro (Si3N4), silicio-oxinitruro (Si2N2O) y sialón en materiales crudos y productos refractarios.
La norma se enfoca en los métodos de difracción de rayos X (XRD) para la identificación y cuantificación de estos compuestos. Los procedimientos descritos incluyen la preparación de muestras, la selección de condiciones de medición y el análisis de datos.
Los métodos XRD se basan en la medición de la intensidad de los rayos X que se difractan por las estructuras cristalinas de los materiales. La norma especifica los parámetros de medición, como la energía del haz de rayos X, el ángulo de incidencia y el tiempo de medición.
Además, la norma establece criterios para la evaluación de la precisión y la exactitud de los resultados, así como procedimientos para la corrección de errores y la determinación de la confiabilidad de los datos. La norma también proporciona recomendaciones para la interpretación de los resultados y la toma de decisiones en función de ellos.
En resumen, la norma ISO 21068-4:2024 establece un marco común para la aplicación de métodos XRD en la análisis química de materiales crudos y productos refractarios que contienen silicon-carburo, silicio-nitruro, silicio-oxinitruro y sialón.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar