Fecha de publicación: 26/10/2024
Phase quantitative analysis of residual quartz in silica bricks X-ray diffraction method
La norma ISO/DIS 16206 establece un método para la análisis cuantitativo por difracción de rayos X (XRD) de la cantidad residual de cuarzo en ladrillos de sílice. Este método se utiliza para determinar la cantidad de cuarzo presente en los ladrillos de sílice, lo que es importante para garantizar su calidad y seguridad en aplicaciones industriales.
El método se basa en la medición de la intensidad de los picos de difracción de rayos X correspondientes a las reflexiones del cuarzo (101) y (110). La cantidad residual de cuarzo se determina mediante la relación entre la intensidad del pico de difracción del cuarzo y la intensidad del pico de difracción del sílice.
La norma establece los siguientes requisitos para el equipo y los materiales utilizados:
* Un generador de rayos X con una potencia de al menos 1 kW y un espectrómetro de rayos X con una resolución de al menos 0,01° en la dirección del ángulo de difracción.
* Ladrillos de sílice que cumplan con los requisitos de pureza y tamaño establecidos en la norma.
* Un software de análisis de datos capaz de realizar el ajuste de la curva de fondo y la determinación de la cantidad residual de cuarzo.
La norma también establece los procedimientos para la preparación de los muestras, la medición de la intensidad de los picos de difracción y el cálculo de la cantidad residual de cuarzo. Se proporcionan también recomendaciones para la interpretación de los resultados y la garantía de la precisión y exactitud de las mediciones.
En resumen, la norma ISO/DIS 16206 establece un método preciso y confiable para determinar la cantidad residual de cuarzo en ladrillos de sílice mediante análisis XRD.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar