Fecha de publicación: 06/01/2025
Surface chemical analysis Total reflection X-ray fluorescence analysis of water
La norma ISO/DIS 20289, «Surface chemical analysis — Total reflection X-ray fluorescence analysis of water», es un borrador que establece los requisitos y procedimientos para la análisis de fluorescencia por rayos X de reflexión total (TXRF) de agua. Esta técnica se utiliza comúnmente en la caracterización química superficial de superficies y materiales.
La norma describe los principios básicos de la TXRF, incluyendo el uso de un emisor de rayos X que incide sobre una superficie reflectora, generando un haz de rayos X que se refleja en la superficie y excita los electrones de los átomos presentes en la superficie. El espectrómetro de TXRF mide la fluorescencia emitida por los átomos excitados, lo que permite determinar la composición química superficial.
La norma establece los requisitos para el equipo y los materiales utilizados en la TXRF, incluyendo el emisor de rayos X, el espectrómetro de TXRF, las superficies reflectoras y los materiales de muestra. También se definen los procedimientos para la preparación de las muestras, la calibración del espectrómetro y la interpretación de los resultados.
La norma también establece los límites de precisión y exactitud para la determinación de la composición química superficial mediante TXRF, lo que permite evaluar la confiabilidad de los resultados. Finalmente, se proporcionan recomendaciones para la aplicación práctica de la norma en diferentes campos, como la caracterización de superficies, la análisis de contaminantes y la investigación científica.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar