Fecha de publicación: 03/10/2007
Análisis químico de productos refractarios de carburo de silicio ligado con nitruro. Parte 2: Métodos DRX.
La norma UNE-EN 12698-2:2007, «Análisis químico de productos refractarios de carburo de silicio ligado con nitruro. Parte 2: Métodos DRX», establece los requisitos para la identificación y determinación del contenido de elementos químicos en productos refractarios de carburo de silicio ligado con nitruro (Si3N4) mediante técnicas de difracción de rayos X (DRX).
La norma se aplica a los productos refractarios de Si3N4 utilizados en aplicaciones tales como la fabricación de cerámicas, abrasivos y materiales para la construcción. El análisis químico es fundamental para garantizar la calidad y propiedades de estos productos.
El método DRX utilizado en esta norma implica la exposición de una muestra al haz de rayos X, lo que provoca la difracción de los electrones en las estructuras cristalinas del material. La información obtenida se analiza mediante técnicas de procesamiento de datos para determinar el contenido de elementos químicos presentes en la muestra.
La norma establece especificaciones para la preparación de las muestras, incluyendo la selección de la matriz y la cantidad de material necesaria. También se definen los límites de precisión y tolerancia para los resultados del análisis, así como los procedimientos para la corrección de errores y la repetición de mediciones.
En resumen, la norma UNE-EN 12698-2:2007 proporciona una guía detallada para el análisis químico de productos refractarios de carburo de silicio ligado con nitruro mediante técnicas de difracción de rayos X. Su aplicación es fundamental para garantizar la calidad y propiedades de estos materiales en diferentes aplicaciones industriales.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar