Fecha de publicación: 30/09/2002
Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 25-3: Ensayo 25c. Degradación del tiempo de subida.
La norma UNE-EN 60512-25-3:2002 establece los requisitos y procedimientos para evaluar la resistencia a la degradación del tiempo de subida en conectores electrónicos. Esta parte 25-3 de la norma define el ensayo 25c, que consiste en medir la variabilidad del tiempo de subida (TOS) de un conector electrónico durante un período determinado de tiempo.
El objetivo del ensayo es evaluar la estabilidad y fiabilidad del conector en condiciones de uso prolongadas. El TOS se mide como el tiempo necesario para que el conector alcance una tensión eléctrica estable entre sus terminales, después de que se ha aplicado un voltaje de prueba.
El procedimiento de ensayo implica la exposición del conector a un entorno controlado de temperatura y humedad, durante un período de 1000 horas. Durante este tiempo, se miden periódicamente el TOS y otros parámetros relevantes, como la resistencia eléctrica y la tensión entre los terminales.
La norma establece límites para la variabilidad del TOS y otros parámetros, que deben ser cumplidos por el conector para considerarse apto para uso. Los resultados del ensayo se presentan en forma de gráficos y tablas, que permiten evaluar la evolución del conector durante el período de prueba.
En resumen, la norma UNE-EN 60512-25-3:2002 proporciona un marco estándar para evaluar la resistencia a la degradación del tiempo de subida en conectores electrónicos, lo que es fundamental para garantizar la fiabilidad y seguridad de los equipos electrónicos.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar