Fecha de publicación: 11/06/2004
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 25: Ciclos de temperatura.
La norma UNE-EN 60749-25:2004, «Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 25: Ciclos de temperatura», establece los requisitos para la evaluación del comportamiento de dispositivos de semiconductores ante ciclos de temperatura. Esta norma se aplica a dispositivos de semiconductores, incluyendo diodos, transistores y otros componentes electrónicos.
La norma describe un método de ensayo que consiste en someter los dispositivos a ciclos de temperatura controlados entre -40°C y 125°C, con una duración de cada ciclo de 30 minutos. El objetivo es evaluar la resistencia del dispositivo a cambios bruscos en la temperatura y su capacidad para funcionar correctamente durante un período prolongado.
El ensayo se realiza utilizando un equipo de prueba que permite controlar la temperatura y el tiempo de exposición. Los dispositivos se someten a 10 ciclos de temperatura, con una pausa de 30 minutos entre cada ciclo. Durante el ensayo, se miden los parámetros eléctricos del dispositivo, como la corriente y la tensión, para evaluar su comportamiento.
La norma también establece requisitos para la presentación de los resultados del ensayo, incluyendo la presentación gráfica de los datos y el cálculo de las estadísticas descriptivas. La norma es aplicable a dispositivos de semiconductores que requieren una evaluación de su resistencia a ciclos de temperatura en condiciones ambientales.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar