Fecha de publicación: 01/08/2017
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 28: Ensayo de la sensibilidad a la descarga electrostática. Modelo de dispositivo cargado- Nivel de dispositivo. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en agosto de 2017.)
La norma UNE-EN 60749-28:2017, «Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 28: Ensayo de la sensibilidad a la descarga electrostática. Modelo de dispositivo cargado-Nivel de dispositivo», establece los procedimientos para evaluar la resistencia de los dispositivos de semiconductores a la descarga electrostática (DES). Esta norma es aplicable a todos los dispositivos de semiconductores, incluyendo diodos, transistores, condensadores y otros componentes electrónicos.
La norma describe un método para evaluar la sensibilidad a la DES mediante el ensayo del modelo de dispositivo cargado-Nivel de dispositivo. El objetivo es determinar la capacidad del dispositivo para resistir la descarga electrostática sin sufrir daños o alteraciones en su función. El ensayo consiste en aplicar una carga eléctrica a un dispositivo cargado y medir la tensión y el flujo de corriente resultantes.
La norma establece los requisitos para la preparación del dispositivo, incluyendo la limpieza y la condición de los contactos. También se especifican los parámetros de ensayo, como la tensión de descarga, la duración de la descarga y el tiempo de recuperación. Además, se establecen los procedimientos para la medición de la tensión y el flujo de corriente.
La norma UNE-EN 60749-28:2017 es una guía práctica para los diseñadores, fabricantes y ensayadores de dispositivos de semiconductores que desean evaluar su resistencia a la descarga electrostática.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar