Fecha de publicación: 18/03/2004
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 31: Inflamabilidad de dispositivos con encapsulado plástico (provocada internamente).
La norma UNE-EN 60749-31:2004 se refiere a los métodos de ensayo para evaluar la inflamabilidad de dispositivos de semiconductores con encapsulado plástico, provocada internamente. Esta norma es parte de la serie UNE-EN 60749, que establece los requisitos para los métodos de ensayo mecánicos y climáticos para dispositivos de semiconductores.
La presente norma se centra en el ensayo de la inflamabilidad de dispositivos con encapsulado plástico, utilizando un método de aplicación de calor interno. Este método consiste en aplicar una fuente de calor interna al dispositivo, lo que provoca una posible reacción química y, eventualmente, la inflamabilidad del material plástico.
El ensayo se realiza según el siguiente procedimiento: se coloca el dispositivo en un ambiente controlado a temperatura y humedad específicas. Luego, se aplica una fuente de calor interna al dispositivo, utilizando un dispositivo de aplicación de calor especializado. La inflamabilidad del material plástico se evalúa observando la ignición y propagación del fuego.
La norma establece los requisitos para el equipo de ensayo, el procedimiento de ensayo y las condiciones ambientales. También define los parámetros de evaluación de la inflamabilidad, como la velocidad de propagación del fuego y la temperatura máxima alcanzada.
En resumen, la norma UNE-EN 60749-31:2004 proporciona un método estándar para evaluar la inflamabilidad de dispositivos de semiconductores con encapsulado plástico, lo que es importante para garantizar la seguridad y confiabilidad de estos dispositivos en aplicaciones específicas.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar