Fecha de publicación: 18/03/2004
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 32: Inflamabilidad de dispositivos con encapsulado plástico (provocada externamente).
La norma UNE-EN 60749-32:2004 se refiere a los métodos de ensayo para evaluar la inflamabilidad de dispositivos de semiconductores con encapsulado plástico, provocada externamente. Esta norma es parte del conjunto de estándares UNE-EN 60749 que establecen los requisitos y procedimientos para el ensayo de dispositivos de semiconductores en cuanto a su resistencia mecánica y climática.
La presente norma se centra en la evaluación de la inflamabilidad de dispositivos con encapsulado plástico, lo que implica la capacidad del material plástico de soportar condiciones de fuego o calor sin generar llama ni emisiones tóxicas. El ensayo consiste en someter el dispositivo a una fuente de calor externa, como un quemador de gas o una llama artificial, y evaluar si se produce inflamabilidad.
La norma establece los siguientes requisitos para el ensayo:
* Seleccionar dispositivos representativos del lote.
* Realizar el ensayo en condiciones controladas de temperatura y humedad.
* Utilizar un quemador de gas o una llama artificial como fuente de calor.
* Evaluar la inflamabilidad mediante la observación visual y la medición de la altura de la llama.
* Registrar los resultados y evaluar la conformidad con los límites establecidos.
La presente norma se aplica a dispositivos de semiconductores con encapsulado plástico, como diodos, transistores, resistencias y condensadores, entre otros. La aplicación de esta norma es importante para garantizar la seguridad y confiabilidad de los dispositivos electrónicos en diferentes aplicaciones.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar