Fecha de publicación: 16/03/2005
Dispositivos semiconductores. Ensayos mecánicos y climáticos. Parte 33: Resistencia a la humedad acelerada. Autoclave no polarizada
La norma UNE-EN 60749-33:2005 establece los procedimientos y condiciones para evaluar la resistencia a la humedad acelerada de dispositivos semiconductores mediante el uso de un autoclave no polarizado. Esta norma es aplicable a todos los dispositivos semiconductores, incluyendo diodos, transistores, integradas y otros componentes electrónicos.
La resistencia a la humedad acelerada se mide mediante la exposición del dispositivo semiconductor al vapor de agua saturado en un autoclave no polarizado a una temperatura constante. El ensayo tiene como objetivo evaluar la capacidad del dispositivo para soportar condiciones húmedas y temperaturas elevadas sin sufrir daños eléctricos o mecánicos.
El procedimiento de ensayo se describe en los siguientes pasos:
1. Se selecciona un dispositivo semiconductor que cumpla con los requisitos de la norma.
2. El dispositivo se coloca en una caja de ensayo y se cierra herméticamente.
3. La caja se introduce en el autoclave no polarizado, que se calienta a una temperatura constante (generalmente entre 121°C y 134°C).
4. Se mantiene la exposición al vapor de agua saturado durante un período de tiempo determinado (usualmente entre 24 horas y 7 días).
5. Después del ensayo, se verifica el dispositivo para detectar cualquier daño eléctrico o mecánico.
La norma UNE-EN 60749-33:2005 proporciona los detalles técnicos necesarios para realizar este ensayo de manera efectiva y comparable entre diferentes laboratorios y fabricantes.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar