Fecha de publicación: 20/07/2011
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 34: Ciclo de potencia.
La norma UNE-EN 60749-34:2011 se refiere a «Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 34: Ciclo de potencia». Esta norma establece los requisitos para el ensayo del ciclo de potencia en dispositivos semiconductores, con el objetivo de evaluar su capacidad para resistir a cambios bruscos en la temperatura y tensión.
La norma se aplica a todos los tipos de dispositivos semiconductores, incluyendo diodos, transistores, condensadores y otros componentes electrónicos. El ciclo de potencia consiste en una serie de ciclos de temperatura y tensión que simulan las condiciones de funcionamiento reales del dispositivo.
El ensayo se realiza según los siguientes pasos: 1) Se coloca el dispositivo en un ambiente controlado con una temperatura inicial predeterminada; 2) Se aplica una tensión eléctrica al dispositivo, que puede ser constante o variable; 3) La temperatura se cambia bruscamente (usualmente de -55°C a 125°C) y la tensión se mantiene constante; 4) El ciclo se repite varias veces (generalmente entre 10 y 100 ciclos); 5) Se evalúa el dispositivo después del ensayo para detectar cualquier daño o falla.
La norma establece los requisitos para la preparación del dispositivo antes del ensayo, como la limpieza y la protección contra la humedad. También se especifican los parámetros de ensayo, como la frecuencia de cambio de temperatura y la amplitud de la tensión aplicada.
La norma UNE-EN 60749-34:2011 es un documento importante para garantizar la calidad y fiabilidad de los dispositivos semiconductores en diferentes aplicaciones electrónicas.
gracias, por fin encontre la normativa entera, lo unico que hay que hacerlo con el navegador opera gx como indica pero bueno...
gracias, es dificil de encontrar sin pagar